蒸汽老化试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业、电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验

简介

蒸汽老化试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业、电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验；半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。微电脑温度控制器、LED数字显示，PID+SSR控制，白金电阻温度传感器（PT100），解析度0.1℃，。

结构特点

老化箱整体不锈钢SUS#304HL制成，操作设定简易微电脑数位LED控制，具时间规划功能，可设定9,990Mins多重超温保护/缺水切电热等安全装置。零件、连接器被动元件，半导体接脚高温高湿氧化试验。金属接脚沾锡性试验加速老化试验。采用式PID+SSR温度控制器，同时具有时间计时功能，可设定9990分式无限。

技术规格参数

内外箱体材质：SUS304#优质不锈钢板保温层：PV发泡胶升温时间:大约40分钟；控制功能:PID+SSR,数字式显示蒸气温度:97℃计时功能：1～9999分钟，附时到报警功能，时间到达后切断电源水位控制：附水箱自动补水电源：1?220V±10%50Hz3.0KW